Novembertől indulnak a HCHiP vállalati képzései
Örömmel jelentjük be, hogy 2026 novemberétől elindulnak a HCHiP projekt (Magyar Félvezetőtechnológiai Kompetenciaközpont, vállalati képzései. A program elsősorban a hazai kis- és középvállalkozások (KKV-k) szakembereinek szól, akik a félvezetőiparhoz, az elektronikai iparhoz, a mikrotechnológiákhoz és kapcsolódó területeikhez kötődő naprakész ismereteket és gyakorlati tapasztalatot szeretnének szerezni. Valamennyi képzés elméleti és gyakorlati részből áll, így a résztvevők nemcsak az adott technológia alapjaival ismerkedhetnek meg,
hanem korszerű laboratóriumi eszközökön és módszereken keresztül gyakorlati betekintést is nyerhetnek az alkalmazásokba.
A képzéseket egy- vagy kétnapos formában rendezzük meg.
A HCHiP képzésein a hazai KKV-k szakemberei számára a részvétel ingyenes, de regisztrációhoz kötött.
A regisztráció csak a szervezők e-mailes megerősítését követően válik érvényessé.
Kivételt képez az „Atomi szintű szerkezetvizsgálat saját mintán” képzés, amely a résztvevők saját mintájának előkészítését
és vizsgálatát is magában foglalja, így a résztvevőknek a vizsgált mintától függő önköltségi hozzájárulást kell fizetniük.
A képzések nyelve: magyar.
Várjuk jelentkezését!
Képzéseink:
Elektron- és ionsugaras
analitikai módszerek
pásztázó elektronmikroszkópban
(ingyenes)
A részvételi feltételek és a regisztráció
az alábbi linkeken érhetőek el:
• 2026. november 10. (https://luma.com/ra2j494o )
• 2026. december 1-2. (https://luma.com/6fodtubt )
• 2027. január 12. (https://luma.com/urd9yqqn )
| Felépítés | Fél nap elméleti oktatás + fél nap laboratóriumi bemutató |
| Javasolt létszám | Maximum 5 fő |
| Célcsoport | A technológia iránt érdeklődő vállalkozások szakemberei |
| Helyszín | HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet, 1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33. |
| Képzés nyelve | Magyar |
Az oktatás célja
A képzés célja, hogy a résztvevők átfogó képet kapjanak a modern pásztázó elektronmikroszkópos (SEM) vizsgálati és mikroanalitikai módszerek, valamint a fókuszált ionsugaras technológiák lehetőségeiről, korlátairól és alkalmazási területeiről. Az oktatás során megismerik az anyagvizsgálati, félvezető-technológiai, hibafeltárási, minőségellenőrzési és kutatás-fejlesztési feladatokban széles körben alkalmazott eljárásokat, valamint azt, hogy ezek a technológiák milyen módon támogathatják saját szakmai tevékenységüket.
Elméleti oktatás (fél nap)
Az elméleti blokk áttekintést ad a pásztázó elektronmikroszkóp működési elvéről, az elektronoptikai rendszer felépítéséről, a vákuumtechnikai alapokról, valamint a minta és a primer sugár kölcsönhatásából származó információkról. A résztvevők megismerik a szekunder elektronos és visszaszórt elektronos képalkotás alapjait, a különböző kontrasztmechanizmusokat, a felbontást és a képminőséget befolyásoló tényezőket, valamint a mérési eredmények helyes értelmezésének szempontjait. Külön hangsúlyt kap az energiadiszperzív röntgenspektroszkópia (EDS), az elemanalízis lehetőségei és korlátai, a kvalitatív és kvantitatív elemzés alapjai, valamint az elemtérképezés gyakorlati alkalmazása.
Az oktatás kitér a különböző analitikai jelek információtartalmára, a térbeli felbontás kérdésére, továbbá arra, hogy az egyes vizsgálati módok milyen típusú információk kinyerésére alkalmasak. Az oktatás bemutatja a fókuszált ionsugaras technológia (FIB) működését, az ionsugár és az anyag kölcsönhatását, az ionmikroszkópos képalkotást, a lokális anyagmegmunkálás, keresztmetszet-készítés és a célzott mintapreparálás alapelveit. Szó esik továbbá a gázbefecskendező rendszerek (GIS) szerepéről, a vezető és szigetelő rétegek lokális leválasztásának
és a gázasszisztált lokális marásnak lehetőségeiről, valamint a nanomanipulátorok lehetséges alkalmazási területeiről. Az elméleti rész kitér
a mérést nehezítő körülményekre, így a töltődésre, a kontaminációra és a mintakárosodás jelenségére, továbbá a technológiák ipari alkalmazhatóságára és a tipikus alkalmazási területekre is.
Laboratóriumi bemutató (fél nap)
A laboratóriumi program az elméleti oktatás során ismertetett módszerekre épül. A résztvevők működés közben ismerhetik meg a pásztázó elektronmikroszkópot és a kapcsolódó analitikai rendszereket egy korszerű, nagy felbontású DualBeam FIB-SEM rendszeren, betekintést kapva a vizsgálatok előkészítésének, végrehajtásának és értékelésének gyakorlatába. A bemutató során valós példák segítségével szemléltetjük, hogy az ismertetett technológiák miként alkalmazhatók ipari feladatok megoldására.
Lab-on-a-Chip és mikrofluidikai
rendszerek: a kutatólaboratóriumtól
a gyakorlati alkalmazásokig (ingyenes)
A részvételi feltételek és a regisztráció az alábbi linkeken érhetőek el:
• 2026. november 19-20.
(1. turnus: https://luma.com/gnf7ypy1, 2. turnus: https://luma.com/e1kdje6k )
• 2026. december 10-11.
(1. turnus: https://luma.com/wuw1l1z5, 2. turnus: https://luma.com/4iesppdx )
• 2027. január 14-15.
(1. turnus: https://luma.com/7s880fun, 2. turnus: https://luma.com/i2yfi8j8 )
| Felépítés | Fél nap elméleti oktatás + fél nap laboratóriumi bemutató |
| Javasolt létszám | Maximum 10 fő két turnusban |
| Célcsoport | A technológia iránt érdeklődő vállalkozások szakemberei |
| Helyszín | HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet, 1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33. |
| Képzés nyelve | Magyar |
Az oktatás célja
A képzés célja, hogy a résztvevők átfogó képet kapjanak a Lab-on-a-Chip és mikrofluidikai rendszerek működési elveiről, tervezési szempontjairól, gyártási technológiáiról és alkalmazási lehetőségeiről. Az oktatás bemutatja, hogyan valósítható meg folyadékok, részecskék és biológiai minták precíz kezelése mikrométeres mérettartományban, valamint hogyan alkalmazhatók ezek a megoldások diagnosztikai, gyógyszeripari és egyéb biotechnológiai és kémiai mikrorendszerekben. A résztvevők áttekintést kapnak a mikrofluidikai rendszerek fejlesztésének teljes folyamatáról a tervezéstől és szimulációtól a gyártáson át a kísérleti validálásig.
Elméleti oktatás (fél nap)
Az elméleti blokk áttekintést ad a Lab-on-a-Chip és mikrofluidikai rendszerek alapfogalmairól, működési elveiről és alkalmazási területeiről.
A résztvevők megismerik a mikroméretű folyadékáramlás sajátosságait, a lamináris áramlás jellemzőit, valamint a mikrofluidikai rendszerek tervezésében meghatározó fizikai jelenségeket, köztük a Reynolds- és kapilláris szám szerepét. Megismerik a mintaszállítás és mintamanipuláció passzív és aktív módszereit, a keverés, szeparáció, valamint a részecske- és sejtkezelés alapvető megoldásait.
Az oktatás kitér a végeselemes modellezés (FEM) alapjaira és a COMSOL Multiphysics környezetben végzett mikrofluidikai szimulációk szerepére. Emellett az oktatás kitér a mikrofluidikai rendszerek gyártási technológiáira, különös tekintettel a lágy litográfiára és a PDMS-alapú gyors prototípuskészítésre, valamint a fejlettebb megoldásokra, például a szilícium-üveg alapú rendszerekre, a mély reaktív ionmarásra (DRIE) és a különböző kötési technológiákra. Az elméleti rész kitér az egyes technológiák előnyeire, korlátaira és ipari alkalmazhatóságára is.
Laboratóriumi bemutató (fél nap)
A laboratóriumi program hazánk egyetlen MEMS tisztatéri laboratóriumában történik és az elméleti oktatás során ismertetett módszerekre épül. A résztvevők betekintést kapnak a mikrofluidikai rendszerek előállításának és vizsgálatának folyamatába, valamint megismerhetik a prototípusgyártás és a funkcionalitás-ellenőrzés legfontosabb lépéseit. A bemutató során szemléltetjük a PDMS-alapú mikrofluidikai eszközök gyártásához kapcsolódó technológiákat, valamint a mikrofluidikai jelenségek és működési tulajdonságok kísérleti vizsgálatának módszereit. A laboratóriumi blokk célja, hogy a résztvevők közvetlen betekintést nyerjenek a mikrofluidikai rendszerek fejlesztésének, gyártásának és kísérleti értékelésének gyakorlati aspektusaiba.
Mikro-elektromechanikai
eszközök (MEMS)
és gyártástechnológiai lépéseik
(ingyenes)
A részvételi feltételek és a regisztráció
az alábbi linkeken érhetőek el:
• 2026. november 10. (https://luma.com/bmp65rf2 )
• 2026. december 8. (https://luma.com/fdg1xzhv )
• 2027. január 12-13. (https://luma.com/zodtk99f )
| Felépítés | Fél nap elméleti oktatás + fél nap laboratóriumi bemutató |
| Javasolt létszám | Maximum 5 fő |
| Célcsoport | A technológia iránt érdeklődő vállalkozások szakemberei |
| Helyszín | HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet, 1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33. |
| Képzés nyelve | Magyar |
Az oktatás célja
Az egynapos képzés során egy bevezető áttekintést adunk a modern mikroelektronikai és mikrotechnológiai eljárásokról. Bemutatjuk,
hogy – az integrált áramkörök gyártásához hasonlóan – rendkívül gazdaságosan, nagy tömegben előállított mikroméretű érzékelők
és beavatkozó eszközök (Micro ElectroMechanical Systems, MEMS) milyen hihetetlen mértékben váltak mindennapi életünk részévé.
Néhány példával érzékeltetjük, milyen fontos szerepet játszanak a modern ipari és mezőgazdasági termelésben és a drámai sebességgel fejlődő gyógyászati-sebészeti eljárásokban.
Az kurzus célja, hogy ízelítőt adjunk korunk egyik legdinamikusabban fejlődő iparágáról, érzékeltessük a benne rejlő lehetőségeket és egy-egy saját fejlesztésen keresztül bemutassuk az Energiatudományi Kutatóközpont Mikrorendszerek és Nanoszerkezetek laboratóriumainak
K+F tevékenyégét és az ebben rejlő lehetőségeket.
Elméleti oktatás (fél nap)
Az elméleti képzés során bevezető jelleggel ismertetjük a félvezető, elsősorban Si alapú integrált áramköri gyártástechnológia főbb lépéseit;
a vékonyréteg leválasztási, ábrakialakítási és rétegeltávolítási technikákat, valamint a félvezetők elektromos tulajdonságait befolyásoló módszereket. Kiemelten foglalkozunk a MEMS eszközökben alkalmazott speciális, 3D eljárásokkal. Bemutatjuk, hogyan biztosíthatóak
a technológia által megkövetelt levegő tisztasági követelmények, milyen fontos az alkalmazott anyagok tisztasága, mennyire fontos az egyes technológiai lépések pontossága és reprodukálhatósága, hogy a komplex technológiai műveletsor végén megfelelő kihozatallal és megbízható minőségben lehessen az IC-ket, ill. a MEMS eszközöket előállítani. A felsorolt szelettechnológiai eljárások (front end) mellett röviden ismertetjük a chip tokozási-csomagolási technikákat is, melyek gyakran kiemelt szerepet játszanak a külvilág jeleit mérő érzékelő eszközökben.
Laboratóriumi bemutató (fél nap)
A laboratóriumi program során bemutatjuk az intézet mikro- és nanotechnológiai tisztatereit és az előadásokban ismertetett alapvető gyártástechnológia berendezéseit. Az ismertetés mellett lehetőséget nyújtunk egy vékonyrétegben kialakítandó mikro-ábra készítésére is, hogy egy kis ízelítőt adjunk a gyártástechnológia izgalmairól és szépségeiről.
Atomi szintű
szerkezetvizsgálat
(ingyenes)
A részvételi feltételek és a regisztráció
az alábbi linkeken érhetőek el:
• 2026.november 13. (https://luma.com/ib241r61 )
• 2026. december 4. (https://luma.com/4amlxnxk )
• 2027. január 22. (https://luma.com/6quyufay )
| Felépítés | 2×45 perc előadás + 2×3 óra laborgyakorlat |
| Javasolt létszám | Maximum 5 fő |
| Célcsoport | ipari környezetben dolgozó mérnökök, műszaki menedzserek |
| Helyszín | HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet, 1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33. |
| Képzés nyelve | Magyar |
Az oktatás célja
A bevezető kurzus célja, hogy bemutassa az elektronmikroszkópia lehetőségeit a szerkezetvizsgálat területén, és a résztvevők érdeklődésétől, szakterületétől függően számba vegye az elektronmikroszkópia gyártási, kutatás-fejlesztési folyamatokban való alkalmazásának lehetőségeit figyelembe véve a HChip projekt és a magyarországi elektronmikrosztkópos laborok támogatói szerepvállalását
Elméleti oktatás (2×45 perc)
A kurzus előadásain áttekintjük a különféle elektronmikroszkópos technikákat SEM, TEM, STEM és mintapreparálási eljárásokat.
Az előadásokat követően laborgyakorlatok keretében mutatjuk be vékony metszetek készítését FIB technikával, majd az így elkészített mintán atomi felbontású felvételeket, elektrondiffrakciós felvételeket, nagy felbontású elemtérképeket készítünk transzmissziós elektronmikroszkóppal.
Laboratóriumi bemutató (2×3 óra)
A laboratóriumi program az elméleti oktatás során ismertetett módszerekre épül. A résztvevők működés közben ismerhetik meg
a transzmissziós elektronmikroszkópot és a kapcsolódó analitikai rendszereket egy korszerű, nagy felbontású Themis TEM-EDS rendszeren, betekintést kapva a vizsgálatok előkészítésének, végrehajtásának és értékelésének gyakorlatába. A bemutató során valós példák segítségével szemléltetjük, hogy az ismertetett technológiák miként alkalmazhatók ipari feladatok megoldására.
Atomi szintű
szerkezetvizsgálat
saját mintán
(önköltséges)
A részvételi feltételek és a regisztráció
az alábbi linken érhető el:
2026. december 3. (https://luma.com/rbm6kaxa )
| Időtartam | megbeszélés szerint, a minták munkaigényétől függően (min 600EUR / vizsgált minta) |
| Felépítés | 2×45 perc előadás + labormunka |
| Javasolt létszám | Maximum 5 fő |
| Célcsoport | ipari környezetben dolgozó mérnökök, műszaki menedzserek |
| Helyszín | HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet, 1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33. |
| Képzés nyelve | Magyar |
Az oktatás célja
A bevezető kurzus célja, hogy bemutassa az elektronmikroszkópia lehetőségeit a szerkezetvizsgálat területén, és a résztvevők érdeklődésétől, szakterületétől függően számba vegye az elektronmikroszkópia gyártási, kutatás-fejlesztési folyamatokban való alkalmazásának lehetőségeit figyelembe véve a HChip projekt és a magyarországi elektronmikrosztkópos laborok támogatói szerepvállalását.
Szükséges alapismeretek: részletes ismeretek a hozott mintáról (a vizsgálható mintákra vonatkozóan vannak korlátozások)
Elméleti oktatás (2×45 perc)
A kurzus előadásain áttekintjük a különféle elektronmikroszkópos technikákat SEM, TEM, STEM és mintapreparálási eljárásokat.
Az előadásokat követően laborgyakorlatok keretében mutatjuk be vékony metszetek készítését FIB technikával, majd az így elkészített mintán atomi felbontású felvételeket, elektrondiffrakciós felvételeket, nagy felbontású elemtérképeket készítünk transzmissziós elektronmikroszkóppal.
Laboratóriumi bemutató (szükség szerint)
A résztvevők által hozott minta vizsgálata, részletes ismertető és bemutató a minta preparálásától az eredmények kiértékeléséig.
A laboratóriumi program az elméleti oktatás során ismertetett módszerekre épül. A résztvevők működés közben ismerhetik meg
a transzmissziós elektronmikroszkópot és a kapcsolódó analitikai rendszereket egy korszerű, nagy felbontású Themis TEM-EDS rendszeren, betekintést kapva a vizsgálatok előkészítésének, végrehajtásának és értékelésének gyakorlatába. A bemutató során valós példák segítségével szemléltetjük, hogy az ismertetett technológiák miként alkalmazhatók ipari feladatok megoldására.